غالبًا ما تستخدم صناعة الإلكترونيات مواد قائمة على الراتنج (مثل الصفائح شبه المعالجة، وأحبار مقاومة اللحام، والغراء، والطلاء الثلاثي المضاد) لتحقيق الترابط الهيكلي أو العزل الكهربائي. سواء كان من الممكن معالجة مادة الراتنج بالكامل يؤثر بشكل مباشر على قوة الربط للمادة، وبالتالي يؤثر على جودة المنتج وموثوقيته. لذلك، في الاستخدام الفعلي للعملية لضمان معالجة مادة الراتنج هذه بالكامل، يعد رصد معدل المعالجة أمرًا ضروريًا. معدل المعالجة هو مؤشر لتقييم الحالة الكيميائية والفيزيائية لمادة الراتنج من السائل أو شبه الصلب إلى الصلب. من خلال قياس معدل المعالجة، يمكن ملاحظة درجة تفاعل العينة المعالجة والتحكم في أداء المادة في الاستخدام الفعلي. هناك العديد من طرق القياس المستخدمة بشكل شائع، ومطياف الأشعة تحت الحمراء بتحويل فورييه FTIR هو تقنية مراقبة بسيطة وسهلة. يستخدم ما يلي لاصقًا قابلاً للمعالجة بالأشعة فوق البنفسجية كمثال لتوضيح تطبيق مطياف الأشعة تحت الحمراء FTIR في تحديد معدل المعالجة.
تم استخدام مطياف الأشعة تحت الحمراء بتحويل فورييه Bruker ALPHA II لوضع العينة المراد اختبارها على بلورة ATR لطاولة العينة، وبدء إجراء الاختبار للحصول على طيف الأشعة تحت الحمراء. تم إجراء الاختبار ثلاث مرات بالتوازي في ثلاثة مواقع مختلفة من نفس العينة.
نطاق رقم الموجة: 4000-400 سم-1؛ الدقة: 4 سم-1؛ أوقات المسح: 32 مرة.
يعتمد التحليل الكمي لطيف الأشعة تحت الحمراء على قياس مساحة الذروة لطيف الامتصاص المميز لحساب محتوى كل مكون، وتستمد النظرية من قانون لامبيربير. في هذا الاختبار، تم اعتماد طريقة نسبة الذروة النسبية، وتم استخدام مطياف الأشعة تحت الحمراء لاختبار أطياف الأشعة تحت الحمراء للمواد الخام غير المعالجة والعينات المعالجة على التوالي، وتم استخدام البرنامج لدمج ذروة القياس المحددة والذروة المرجعية، وتم الحصول على معدل المعالجة وفقًا لصيغة حساب معدل المعالجة. يتم تشعيع اللاصق القابل للمعالجة بالأشعة فوق البنفسجية بواسطة الأشعة فوق البنفسجية، حيث يتم بلمرة -C=C- ويتفاعل لتكوين C-C-. يمكن تحديد معدل المعالجة عن طريق تغيير -c =C-. شكل مستوى C-H على الرابطة المزدوجة للكربون والكربون متغير ويتذبذب بين 1010-667 سم-1. الذروة الشائعة لغراء الأشعة فوق البنفسجية هي 810 ± 5 سم-1، والذروة في هذه المنطقة مفردة نسبيًا، وسهلة التمييز وقوية، لذلك يتم حسابها على أنها ذروة القياس. في الوقت نفسه، في تفاعل المعالجة، لا يشارك C=O و C-O في غراء الأشعة فوق البنفسجية في التفاعل، والمحتوى لم يتغير بشكل أساسي، وعادة ما يستخدم C=O (1720 سم-1) أو C-O (1150 سم-1) كذروة مرجعية. نظرًا لشدة الذروة العالية والخصائص الواضحة لـ C=O المقاسة في الممارسة، يتم تحديد الذروة المميزة C=O كذروة مرجعية للحساب. الصيغة الحسابية هي كما يلي: M'/R' : نسبة مساحة الذروة بين ذروة القياس المعالجة والذروة المرجعية M/R: نسبة مساحة الذروة بين ذروة القياس غير المعالجة والذروة المرجعية
تم اختبار نفس العينة بالتوازي 3 مرات في هذه التجربة، وكان المتوسط هو نتيجة معدل المعالجة. الجدول 1: بيانات ونتائج اختبار معدل معالجة العينة
إن استخدام اختبار FTIR لمعدل معالجة غراء الأشعة فوق البنفسجية بسيط وسريع ونتائج موثوقة ولا يتطلب معالجة مسبقة ولا يستهلك كواشف كيميائية وحماية البيئة والسلامة. تتطلب طريقة الاختبار هذه حجم عينة صغيرًا، وعينة غير مدمرة بشكل أساسي، ومناسبة للاختبار غير المدمر للعينة. باختصار، يعد اختبار FTIR لمعدل المعالجة وسيلة فنية قيمة للغاية لتقييم المواد والعمليات الإلكترونية الراتنجية. بالإضافة إلى ذلك، في تحليل الأعطال، يمكن أن تساعد التكنولوجيا أيضًا في حل مشاكل الأعطال الناجمة عن عدم كفاية معالجة المواد. تتمتع ZESTRON R&S (Reliability and Surface Technology) بخبرة عالمية واسعة في تحليل واجهة السطح وتحليل المخاطر وتحليل الأعطال والمزيد. في مركز تحليل شمال آسيا التابع لـ ZESTRON، تشمل طرق التحليل الفنية التي تستخدمها R&S على سبيل المثال لا الحصر الفحص البصري للمجهر الرقمي عالي الدقة، والكروماتوغرافيا الأيونية IC، واختبار تلوث الأيونات ROSE، ومطياف الأشعة تحت الحمراء بتحويل فورييه FTIR، واختبار موثوقية الطلاء CoRe test، وتحديد المواد الجسيمية/النظافة الفنية Cleanliness، والمجهر الإلكتروني الماسح/محلل طيف الأشعة السينية (SEM/EDS)، وطيف الأشعة السينية للإلكترون XPS، وطيف إلكترون أوجيه AES، واختبار طبقة الطلاء، واختبار التدفق/الراتنج، وقياس زاوية التلامس Contact Angle، وقياس مقاومة العزل السطحي SIR، والتحليل الحراري التفاضلي DTA، وما إلى ذلك. لا يقوم خبراء R&S بتقييم مخاطر الفشل والتوصية بالتدابير الوقائية فحسب، بل يقومون أيضًا بتحليل حالات فشل اختبار التحقق وفشل المجال على المستويات الميكانيكية والسبب الجذري. إذا كنت مهتمًا، فيرجى الاتصال بنا على academy-china@zestron.com!
