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会社ニュース 電子材料の固化速度を決定するためにFTIR赤外線スペクトロスキーの適用.

電子材料の固化速度を決定するためにFTIR赤外線スペクトロスキーの適用.

2024-12-24
Latest company news about 電子材料の固化速度を決定するためにFTIR赤外線スペクトロスキーの適用.
紫外線接着剤の固化率を決定する際のFTIRの適用

電子機器産業では,構造結合や電気隔熱を達成するために,しばしば樹脂ベースの材料 (半固化シート,溶接耐性インク,粘着剤,および3つの抗塗料など) を使用しています.樹脂材料が完全に固化できるかどうかは,材料の結合力に直接影響しますしたがって,この樹脂材料が完全に硬化されることを確保するために,実際の使用過程で,固化速度を監視することが不可欠です固化速度は,液体または半固体から固体への樹脂材料の化学的および物理的状態を評価するための指標です.固化速度を測定することによって,固められたサンプルの反応度が観察され,実際の使用で材料の性能を制御することができる.測定方法は多く使用されており,FTIRフーリア変換赤外線スペクトロコピーはシンプルで簡単なモニタリング技術です.以下は,固化速度を決定するFTIR赤外線スペクトロスコピーの適用を例としてUV固化粘着剤を使用しています..

1試験方法
1.1試験ツールと方法

試験対象の試料を試料表のATR結晶に配置するために Bruker ALPHA II フォーリア変換赤外線スペクトロメーターを使用した.赤外線スペクトルを取得するために試験手順を開始しました試験は同じサンプルの3つの異なる場所に3回並行して行われました.

1.2サンプル試験パラメータの波数範囲

波数範囲: 4000~400cm-1 解像度: 4cm-1 スキャン時間: 32回

1.3硬化率計算原理

赤外線スペクトルの定量分析は,それぞれの成分の含有量を計算するために,特徴的な吸収スペクトルのピークエリアの測定に基づいています.理論はランバービアの法則から派生していますこの試験では,相対ピーク比法を採用し,赤外線スペクトロメーターを使用して,不固化された原材料と固化されたサンプルの赤外線スペクトルをそれぞれ検査しました.ソフトウェアが選択された測定ピークと基準ピークを統合するために使用されました固化速度の計算式に従って固化速度は得られた.UV固化粘着剤は紫外線で照射され,C=C−がポリマー化され,C−C−を形成する反応をする.固化速度は -c =C- 変化によって決定できます炭素-炭素二重結合のC-H平面の形は変形し,1010-667cm-1の間で振動する.UV粘着剤の共通のピークは810±5cm-1であり,この領域のピークは比較的単一である.区別がつきやすく強く測定ピークとして計算されます.同時に,固化反応では,C=OとC-Oは,UV粘着剤には含まれません.C=O (1720cm-1) またはC-O (1150cm-1) は通常基準ピークとして使用されます.実践で測定されたピークC=Oの高強度と明らかな特徴のために,基準ピークとしてC=Oの特徴ピークが選択されます.計算式は次のとおりです: M'/R': 硬化された測定ピークと基準ピークの間のピーク面積の比 M/R: 硬化されていない測定ピークと基準ピークの間のピーク面積の比

1.4固化率計算の結果

この実験では同じサンプルを並行して3回試験し,平均値は固化率の結果でした.表1:サンプル固化率試験データと結果

2紫外線接着剤の固化速度の決定におけるFTIRの利点
  • 非破壊性試験: FTIRは,サンプルにダメージを与えない非破壊性試験であり,価値のあるサンプルまたはより限られたサンプルに適しています.
  • 迅速な対応: FTIRは迅速な品質管理のニーズを満たすために短時間でテストを完了することができます.
  • 高度な感度と特異性:FTIRは微小な化学変化を検出し,固化過程の正確な定量分析を提供します.
3FTIR 紫外線粘着剤の固化率の決定 概要

紫外線粘着剤の固化速度のFTIR検査は簡単で迅速で,信頼性の高い結果,事前処理,化学反応剤の消費なし,環境保護と安全性があります.この試験方法では,小さなサンプルサイズが必要です.基本的には破壊性のないサンプルで 破壊性のないサンプルテストに適しています樹脂電子材料とプロセスの評価のための非常に価値のある技術手段ですさらに,故障分析では,材料の不十分な固化によって引き起こされる故障問題を解決するのに役立ちます.ZESTRON R&S (信頼性と表面技術) は,表面インターフェース分析で広範な世界的な経験を持っています北アジア分析センターでR&S が使用する技術分析方法には,高画質のデジタル顕微鏡の眼検査が含まれますが,これらに限定されません.イオン染色体IC,イオン汚染試験ROSE,フーリア変換赤外線スペクトロスコピーFTIR,コーティング信頼性試験CoRe試験,細粒子の測定/技術清潔さ 清潔さ電子顕微鏡/X線エネルギースペクトル解析器 (SEM/EDS),X線光電子エネルギースペクトルXPS,オイガー電子エネルギースペクトルAES,コーティング層試験,フルックス/樹脂試験接触角測定 接触角,表面隔熱抵抗測定 SIR,微分熱分析DTAなど 研究技術者らは,故障リスクを評価し,予防措置を推奨するだけでなく,検証試験の失敗や フィールドの失敗を 機械的レベルや 根本的な原因レベルでも分析します興味のある方は academy-china@zestron.com に連絡してください! .

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