AOI 탐지기 - 매치2 알고리즘
알레더 알고리즘 - 매치2 알고리즘에 대한 자세한 설명
매치 알고리즘의 확장자인 매치2 알고리즘은 주로 온톨로지가 오프셋되었는지 여부를 감지하는 데 사용되는 Shenzhou Vision AOI의 20 개 이상의 탐지 알고리즘 중 특별한 알고리즘입니다.
매치2 알고리즘은 기판에 기반한 위치 메소드와 기판이 아닌 위치 메소드로 나눌 수 있습니다.기판에 기반한 위치 설정 방법은 이중 위치 설정 방법입니다., 아래 그림과 같이:
알레더AOI 탐지기 - 매치2 알고리즘
위의 그림에서, 빨간색 상자는 기판에 기반한 위치 상자이고, 흰색 상자는 온톨로지에 기반한 위치 상자입니다.온톨로지에 기반한 위치 측정 방법은 기판에 기반한 위치 분석을 통해 제한된 검색 범위 내에서 최적의 위치 위치를 검색합니다.두 위치 상자의 상대적 오프셋을 기반으로, 그들의 상대적 오프셋 값을 계산하고 실제 오프셋 값으로 가져옵니다.그 오프셋 값의 계산 도표는 다음과 같습니다:
알레더AOI 탐지기 - 매치2 알고리즘
위의 그림에서, 1은 표준 스케마 다이어그램이고, 2는 측정 될 오프셋의 스케마 다이어그램입니다. 예를 들어, 영역 1,기판 위치 박스의 중심점 좌표는 (X), Y), 그리고 몸 위치 박스의 중심점 좌표는 (X1, Y1) 이다. 그러면 표준 상대 오프셋은 (DDx, DDy) 이며 계산 공식은 다음과 같다:
DDx = X1 ∙ X
DDy = Y1 ∙ Y
테스트할 온톨로지 위치 상자가 테스트할 기본 위치 상자 (DDx, DDy) 에서 벗어나면 실제 오프셋은 (0, 0) 이다.영역 B의 기판 위치 상자의 중심점 좌표는 (XX, YY), 그리고 몸 위치 박스의 중심점 좌표는 (XX1, YY1) 이다. 그러면 표준 상대 오프셋은 (DDx1, DDy1) 이며 계산 공식은 다음과 같다:
DDx1 = XX1
DDy1 = YY1 ∙ YY
그 다음 테스트 할 구성 요소의 실제 오프셋은 (Dx, Dy) 이며 계산 공식은 다음과 같습니다.
Dx = DDx1 ∆ DDx
DY = DDy1 ∆ DDy
구성 요소가 (Dx, Dy) 의 범위를 판단하여 이동했는지 여부를 결정합니다.
매치2 알고리즘의 온톨로지 박스에 기반한 두 개의 위치 모드가 있으며, 단일 박스 위치 모드와 이중 박스 결합 위치 모드로 나뉘어 있습니다. 다음과 같습니다:
알레더AOI 탐지 - 매치2 알고리즘
위의 그림에서 1은 매치 알고리즘과 일치하는 단일 박스 위치 모드를 나타냅니다. 2는 듀얼 박스 조합 위치 모드입니다.위치 영역은 B 영역의 단선 단일 상자와 점선 단일 상자로 구성됩니다.두 상자의 결합된 면적은 효과적인 위치 영역입니다.
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